菲希爾鍍層測厚儀X射線

FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術，能提供的性能和靈活性。由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統中。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN500一臺儀器，三種作業模式：XAN®500不只是一臺手持便攜式XRF設備，它還可以轉變為臺式儀器或者整合到生產線中。

FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測量技術的模塊化系統：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。

COULOSCOPE CMS2臺式測厚儀，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度。

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器。

FISCHERSCOPE X-RAY XUL/XULM基于 X 射線熒光法的測試儀器，堅固耐用，快速、高效地測量鍍層厚度，特別適合電鍍行業。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL / XDLM / XDAL功能*：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動或自動測試，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。

FISCHERSCOPE XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計

XDV-μ

FISCHER的XDV-μ型系列儀器，可用于測量電子或珠寶等行業中微小結構的產品XUVX 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測量室。

FISCHERSCOPE XDL / XDLM / XDAL憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據不同的測量需求選擇*適合的 X 射線儀器。