庫倫法測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP

該機器具有近100種預定義的應用，用于測量不同的涂層系統（例如鐵上的鋅，黃銅上的鎳）和去鍍速度（例如1,2,5和10m / min）。 這也可以組合起來用于測試多層系統。

菲希爾庫倫法測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP*和用戶友好的PCB涂層厚度測量計是生產監控和進入檢測的理想選擇。

菲希爾庫倫法測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP典型應用：

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測試印刷電路板上殘留的純錫含量

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測量常見的單相以及雙相涂層，如鐵上的ZN或銅上的SN / NI

金屬涂層的測量厚度品種為0.05 - 50m，不需要預先設置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關

測量印刷電路板上純錫的剩余部分，以確保可焊性

多層涂層，如鐵/塑料（abs）基板上的CR / NI / CU

菲希爾庫倫法測厚儀COULOSCOPE CMS2 STEP

無錫代理使用5 x 5個單獨測量的測試區域校準測量系統的標準

作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一，庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結構， 當允許破壞性測 量時，它提供了一個比 X 射線更經濟的替代方法。

很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內， 很多 材料不需要預設定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關緊要的。