菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer代理

菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測(cè)厚儀/光譜測(cè)厚儀/射線鍍層檢測(cè)儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230設(shè)計(jì)理念：

1，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用戶(hù)界面友好的臺(tái)式測(cè)量?jī)x器。手動(dòng)操作的X-Y工作臺(tái)，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸系統(tǒng)。

2，高分辨率的彩色視頻攝像頭具備*的放大功能，可以精-確定位測(cè)量位置。通過(guò)視頻窗口，還可以實(shí)時(shí)觀察測(cè)量過(guò)程和進(jìn)度。

3，測(cè)量箱底部的開(kāi)槽是專(zhuān)為面積大而形狀扁平的樣品所設(shè)計(jì)，由此儀器就可以測(cè)量比測(cè)量箱更長(zhǎng)和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。

4，帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡(jiǎn)化了樣品擺放，并且允許測(cè)量點(diǎn)的精-確調(diào)整。

5，所有的儀器操作，以及測(cè)量數(shù)據(jù)的計(jì)算和測(cè)量數(shù)據(jù)報(bào)表的清晰顯示，都可以通過(guò)功能*而界面友好的 WinFTM軟件在電腦上完成。

6，XDL 型鍍層測(cè)厚及材料分析儀作為受*保護(hù)的儀器，型式許可*符合德國(guó)“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法規(guī)的規(guī)定。

菲希爾x-ray熒光光譜儀/x射線測(cè)厚儀/光譜測(cè)厚儀/射線鍍層檢測(cè)儀FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL 230基本應(yīng)用：

1，鍍層厚度測(cè)量

大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量

電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

鉻鍍層，如經(jīng)過(guò)裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量

2，材料分析

電鍍槽液分析

電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析

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